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聚慕貨號 :
JM1160-748635 
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產品描述
注冊信息
掃描電化學顯微系統（ＳＥＣＭ）
交流掃描電化學顯微鏡系統（ａｃ－ＳＥＣＭ）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ｉｃ－ＳＥＣＭ）
微區電化學阻抗測試系統（ＬＥＩＳ）
掃描振動點擊測試系統（ＳＶＥＴ）
電解液微滴掃描系統（ＳＤＳ）
交流電解液微滴掃描系統（ａｃ－ＳＤＳ）
掃描開爾文探針測試系統（ＳＫＰ）
非觸式微區形貌測試系統（ＯＳＰ）
出色的性能
快速***的閉環定位系統為電化學掃描探針納米***研究的需求而特別設計。結合Ｕｎｉｓｃａｎ 獨特的混合型３２－ｂｉｔ ＤＡＣ技術，用戶可以選擇合適實驗研究的***佳配置
先進和靈活的工作平臺
系統可提供９種探針技術，使得Ｍ４７０成為全球***靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件
７種模塊可選，３種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
Ｍ４７０新產品特征
ＳＥＣＭ自動處理曲線
ＳＥＣＭ用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調節相位
Ｍ４７０同時具備如下特點：
傾斜校正
Ｘ或Ｙ曲線相減（５階多項式）
２Ｄ或３Ｄ快速傅里葉變化
實驗，探針移動和區域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎（ＧＥＳＥ）
支持多區域掃描
所有實驗多個數據視圖
峰值分析
Ｍ４７０是由Ｕｎｉｓｃａｎ儀器開發的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術。
Ｍ４７０技術參數
工作站（所有技術）
掃描范圍（ｘ，ｙ，ｚ） 大于１００ｎｍ
掃描驅動分辨率 ***高０．１ｎｍ
閉環定位 線性零滯后編碼器，直接實時讀出ｘ，ｚ和ｙ位移
軸分辨率（ｘ，ｙ，ｚ） ２０ｎｍ
***大掃描速度 １２．５ｍｍ／ｓ
測量分辨率 ３２－ｂｉｔ解碼器＠高達４０ＭＨｚ
壓電（ｉｃ－和ａｃ－掃描探針技術）
振動范圍 ２０ｎｍ～ ２μｍ峰與峰之間１ｎｍ增量
***小振動分辨率 ０．１２ｎｍ（１６－ｂｉｔ ＤＡＣ，４μｍ）
壓電晶體伸展 １００μｍ
定位分辨率 ０．０９ｎｍ（２０－ｂｉｔ ＤＡＣ ，１００μｍ）
機電
掃描前端 ５００×４２０×６７５ｍｍ（Ｈ×Ｗ×Ｄ）
掃描控制單元 ２７５×４５０×４００ｍｍ（Ｈ×Ｗ×Ｄ）
功率 ２５０Ｗ
